泰克Tektronix電源完整性探頭TPR1000具有低精度負(fù)載(特別是在靈敏的測(cè)量中),并提供低噪聲成分和高帶寬選項(xiàng)。
發(fā)布日期:2024-05-24
一、概述
傳統(tǒng)的電源完整性應(yīng)用通常使用無(wú)源或差分探頭來(lái)測(cè)量電源軌。隨著技術(shù)領(lǐng)域的不斷變化,設(shè)計(jì)師需要更高精度的紋波測(cè)量,并實(shí)現(xiàn)快速轉(zhuǎn)換以擴(kuò)展到多個(gè)頻率范圍。新的設(shè)計(jì)挑戰(zhàn)要求使用新的測(cè)量設(shè)備,這些設(shè)備能夠大大地減少測(cè)量工具的噪聲,同時(shí)還可以提供更多帶寬,以便查看更多信號(hào)內(nèi)容。超低噪聲 TPR1000/4000 電源滑軌探頭具有低精度負(fù)載(特別是在靈敏的測(cè)量中),并提供低噪聲成分和高帶寬選項(xiàng)。
二、泰克Tektronix電源完整性探頭TPR1000更多數(shù)據(jù),更快的信號(hào)
電源完整性探頭可涵蓋高達(dá) 4 GHz 的電源軌瞬態(tài)事件,并提供 ±60V 的偏置電壓范圍,以測(cè)量從插頭到集成電路引腳的電源。它還提供 ±1V 的寬動(dòng)態(tài)范圍,可以讓您在較高的電壓軌上查看線路上的頂降情況,或者查看負(fù)載或瞬態(tài)事件消耗大量電流的時(shí)間。利用這個(gè)強(qiáng)大的組合再配合使用正確的示波器,您不必?fù)?dān)心所看到的噪聲是否來(lái)自測(cè)試設(shè)備,也不必?fù)?dān)心是否會(huì)在系統(tǒng)中看到以前從未見(jiàn)過(guò)的干擾源。
三、泰克Tektronix電源完整性探頭TPR1000克服連接挑戰(zhàn)
電力工程師面臨的挑戰(zhàn)是如何通過(guò)更小、更緊湊的設(shè)計(jì)獲得更高的能效。對(duì)汽車、工業(yè)和消費(fèi)者市場(chǎng)的工程師來(lái)說(shuō)尤其如此,其中典型的驗(yàn)證需要探測(cè)至少 1 個(gè)或多個(gè)電源軌以及其他信號(hào)。由于間距緊湊、信號(hào)受到干擾和幾何組件尺寸較小,這對(duì)連接產(chǎn)生了新的限制。
電源完整性探頭附帶模塊化的靈活連接選項(xiàng),可滿足大多數(shù)需求,F(xiàn)在,在已連接電源軌的表面貼裝組件上焊接時(shí),可以使用 MMCX 鎖扣連接,使測(cè)試設(shè)置變得輕而易舉。
四、適合電源滑軌測(cè)量的合格和理想示波器
無(wú)論是什么行業(yè),電源完整性要求都越來(lái)越嚴(yán)格,單一設(shè)計(jì)中的電源軌數(shù)量也在不斷增加。根據(jù)您的帶寬需求,泰克擁有非常適合與電源完整性探頭配合使用的一整套示波器。
對(duì)于致力于實(shí)現(xiàn)微處理器、存儲(chǔ)器組件、FPGA、存儲(chǔ)設(shè)備和圖像傳感器等快速設(shè)備的電源完整性且需要在 2 至 4 GHz 范圍內(nèi)的紋波測(cè)量中獲得高精度的工程師而言,可以使用帶寬高達(dá) 8GHz 的 6 系列 MSO 示波器。如果不需要過(guò)高帶寬,但需要對(duì)不斷增加的直流電源進(jìn)行精確的紋波測(cè)時(shí),您可以使用多達(dá) 8 個(gè)通道的 5 系列 MSO 示波器。在工作臺(tái)上進(jìn)行 1GHz 以下的傳統(tǒng)紋波測(cè)量時(shí),MDO3000 和 MDO400C 不失為明智的選擇。
五、參數(shù)表
型號(hào) | 衰減 | 帶寬 | 動(dòng)態(tài)范圍 | DC Offset |
TPR1000 | 1.25x | 1 GHz | ±1 V | ±60 V |
TPR4000 | 1.25x | 4 GHz | ±1 V | ±60 V |
六、其它產(chǎn)品
DAQ6510 具有觸摸屏用戶界面,可在儀器上更快完成設(shè)置、實(shí)時(shí)監(jiān)控測(cè)試狀態(tài)以及分析詳細(xì)數(shù)據(jù),從而實(shí)現(xiàn)簡(jiǎn)單性。DAQ6510數(shù)據(jù)采集和記錄萬(wàn)用表系統(tǒng)設(shè)置和運(yùn)行測(cè)試簡(jiǎn)單快速,無(wú)需編寫測(cè)試程序。DAQ6510 數(shù)據(jù)采集和記錄萬(wàn)用表系統(tǒng)的直觀觸摸屏能夠提供簡(jiǎn)單的配置,以及可視的直觀測(cè)試設(shè)置、實(shí)時(shí)的掃描狀態(tài)可視信息,可盡早捕捉問(wèn)題以避免丟失測(cè)試時(shí)間,便于分析測(cè)試數(shù)據(jù)。